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别让晶片故障毁了攸关安全的设计
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英文原文：
故障會發生，但這並不表示無法在晶片设计階段就阻止這些故障對晶片效能帶來阻礙或造成其他意外行為。從汽車到医疗裝置和航太工業設備等攸關安全的電子應用，深受半導體老化效應或α粒子撞擊等問題影響。想像一下，如果駕駛員(或自動煞車功能)煞車時車輛無法停止，或者調節器停止正常運作的情形。
為確保能夠偵測到故障並適時採取更正措施，針對能賦予眾多基本系統生命的晶片，功能安全標準在整個设计流程扮演關鍵角色。用於道路交通工具的 ISO 26262 或用於一般工业安全的 等標準規範一套開發流程，供设计人員記錄和遵循，以確保元件能依照預期的情況執行。更正措施包括系統重設，以進行修復故障或錯誤更正。
故障模拟技術
故障模拟是評估晶片故障影響的最有效的方式之一，同時確保设计能以適當的方式做出回應。故障模拟通常在设计已通過功能仿真模拟後才算完成。此時，理想上不應該有太多變更。雖然這個流程涉及評估设计中的所有潛在錯誤，並確定是否可以偵測到這些錯誤，但斷覆蓋率目標會影響故障模拟的成功與否。越是攸關安全性的设计，診斷覆蓋率目標就越高。鑑於滿足目標所需的故障模拟數量，針對更大、更複雜的晶片设计，會讓整個流程變得更加困難和耗時。
眾所周知，為了滿足攸關安全的晶片设计所需的功能安全標準，功能验证工作量增加了 30%，而故障模拟是其中不可或缺的一環。許多傳統故障模拟工具和方法根本無法勝任這項工作。
幸運的是，現在有一種將功能验证和故障模拟整合至單一流程中的解决方案。新思科技統一功能安全验证平台適合大型、雜雜的SoC；這些SoC在汽車、軍事、医疗等應用中越來越普遍被採用。這個平台的一個關鍵元件是 草榴社区 VC Z01X 新一代故障模拟器，確保验证團隊可以以最低限度的變更設定、设计或測試工作台代碼或偵錯方法，從功能模拟進展到故障模拟。
技术文章
新思科技發表的技术文章「使用先進故障模拟，確保功能性安全」，討論了攸關安全的相關應用的關鍵考量，並說明統一功能安全验证平台如何協助開發符合功能安全標準和滿足上市時程目標的穩定晶片。立即下載詳閱，深入瞭解如何防止晶片故障，避免導致潛在的破壞性後果。