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CODE V強大的公差最佳化 – 设计階段即可提升系統良率
公差分析后良率不佳，该如何提升？
光学设计階段，如何在最佳化中考慮公差？
光學元件和系統在製造過程中，提升良率是很重要的課題。若加工精度不高，设计本身必須對公差不敏感，才能有高的良率。
在最佳化過程中同時考慮公差，通常較為耗時，然而CODE V的TOR公差分析是業界公認最快速且精確的公差分析工具，此演算法也用於最佳化中，稱為SAB最佳化，因此公差最佳化獨步領先於業界其它光学设计軟體。
CODE V另外提供厂狈2降低公差灵敏度方法，它做為最佳化中约束条件的一部份，而不使用公差设定，因而运算速度更快。
以下我们介绍这两种降低公差灵敏度的方法。
厂础叠降低公差灵敏度
TOR使用波前微分演算法對光學系統中使用者所設定的公差進行公差分析，厂础叠降低公差灵敏度方法則在最佳化的誤差函數中增加了TOR公差分析計算，因此透過SAB，能夠針對特定較敏感的公差進行降敏设计。
下圖左側為Double Gauss鏡頭，使用CODE V預設公差進行TOR分析，其累積機率圖顯示於右側。
CODE V的互動式公差工具可幫助我們快速檢查較敏感的公差，如下圖紅色框顯示。
针对较敏感的公差进行厂础叠最佳化，并再次执行罢翱搁公差分析。最佳化前后的公差分析结果并列显示如下，红色框為补偿后各视场在良率為98%情况下的竣工均方根波前误差值。厂础叠最佳化后，贵1视场提升1.6%，贵2视场提升23.4%，贵3视场提升25.9%。
厂狈2一般公差灵敏度约束
厂狈2為最佳化中的约束条件，其计算效率非常高，因此用於全域最佳化和玻璃专家时非常有利。
我们同样以前述镜头為范例，為每个表面增加厂狈2约束，最佳化后执行罢翱搁公差分析。同样地，最佳化前后的公差分析结果并列显示如下，红色框為补偿后各视场在良率為98%情况下的竣工均方根波前误差值。厂狈2最佳化后，贵1视场提升21.3%，贵2视场提升23.1%，贵3视场提升11.7%。
结语
CODE V提供獨步於業界的公差最佳化工具，包括了SAB和SN2。SN2為最佳化中約束條件的一部份，運算速度比SAB快速，適用於全域最佳化的過程中，幫助您在搜尋最佳解時，也同步對公差進行最佳化。