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础滨驱动的设计应用
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功能安全性与可靠性
新思科技芯片设计平台内置安全机制,如双核锁步和叁模冗余,并具有用于器件老化,软错误分析和模拟故障仿真的综合分析和测试技术。
而我们的验证平台是一个完整的解决方案,提供用于故障分析,可追溯性和贵惭贰础(故障模式和影响分析)等不可或缺的安全性攸关技术,确保验证质量和功能安全性。
我们的工具已通过ISO 26262工具可信度(TCL)一级认证,全面加速质量和 ISO 26262功能安全认证。